SCADA / Seguridad de Procesos

Calculadora de Verificación SIL

Verifique PFDavg, nivel SIL alcanzado, restricciones de arquitectura e intervalo de prueba de prueba para bucles SIF según IEC 61511-1 §6.3.

Preajustes

Sensor / Transductor

SIL Alcanzado (Target)

Arquitectura de Votación

Intervalo de Prueba de Prueba

Intervalo de Prueba de Prueba (horas) Horas entre pruebas de prueba. 8760 h = prueba anual.

Falla por Causa Común (β)

Factor β (causa común)

IEC 62061 §6.7.3: típicamente 2–10%, por defecto 5%

Restricciones de Arquitectura

HFT Sensor Dejar en blanco para usar tasas de falla por defecto (λ_DU=1×10⁻⁷, MTTF=87600 h)

SFF Sensor (%) IEC 62061 §6.7.3: típicamente 2–10%, por defecto 5%

Verifique PFDavg, nivel SIL alcanzado, restricciones de arquitectura e intervalo de prueba de prueba para bucles SIF según IEC 61511-1 §6.3.